Die AG Strukturforschung und Elektronenmikroskopie (AG SEM) am Institut für Physik und Center for the Science of Materials (CSMB) der Humboldt-Universität zu Berlin fokussiert ihre Forschungstätigkeit auf die Charakterisierung der atomaren und elektronischen Struktur von Materialien. Zu diesem Zweck betreibt die AG drei Transmissionselektronenmikroskope (TEMs) und ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), die insgesamt eine große Spannbreite von möglichen Methoden abdecken. Die von der AG SEM durchgeführten Untersuchungen ermöglichen eine räumliche Auflösung von weniger als 0,5 Ångtröm, eine spektrale Auflösung von weniger als 6 Millielektronenvolt oder eine Zeitauflösung nahe 100 Femtosekunden und sind sensitiv auf viele verschiedene Materialaspekte, wie elektrische und magnetische Felder, die Eigenschwingungen verschiedener Anordnungen von Atomen oder Plasmonen auf der Oberfläche von Nanostrukturen, aber auch mechanische Verspannungen oder die Bandstruktur von Festkörpern. Gemeinsam mit außeruniversitären Forschungseinrichtungen, wie dem HZB, dem FHI oder dem IKZ betreibt die AG SEM das Berlin-Adlershof Center for Advanced Microscopy (BeAM), in dessen Rahmen weitere komplementäre Elektronenmikroskope unter einem Dach betrieben werden.

Institut für Physik, AG Strukturforschung/ Elektronenmikroskopie